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材料科学超薄切片技术交流会
2017年5月26日至27日，广州w66给利老牌与徕卡中国特别邀请到瑞士 Diatome 公司 Mr. Helmut Gnaegi博士，联合华南师范大学分析测试中心共同举办一次针对高分子材料和无机样品的超薄切片技术交流会。本次交流会吸引了广州大学、中山大学、暨南大学、华南理工大学、广东工业大学轻化学院、华南师范大学、中科院广州地化所等 科研专家及企业工程师到场。交流会上 Mr. Helmut Gnaegi博士与 徕卡应用工程师程路先生详细地介绍了 超薄切片技术的原理以及 现场演示做样，成功地给予大家沟通与交流的平台，得到一致好评，技术交流会在和谐美满...
北京大学深圳研究生院电镜制样研讨会成功举办
2016年10月26日，徕卡纳米技术部与北京大学深圳研究院合举办电镜制样技术交流会。会议吸引了香港科技大学、华南理工大学、北京大学、哈尔滨大学、富士康、华为等150多名科研专家及企业工程师到场。 交流会上徕卡应用工程师程路先生详细地介绍了徕卡最新的先进制样技术，以及做了离子切割抛光在电镜观察中的应用专题报告。徕卡华南区代理商w66给利老牌仪器的应用工程师徐茂华女士详细介绍了徕卡显微样品处理设备TXP的应用。此次技术交流会得到相关人士大力的支持与参与，成功地给予大家沟通与交流的平台，得到一致好评，技术交流会...
广州w66给利老牌--乔迁之喜
广州w66给利老牌，乔迁之喜，重新起航，未来会更精彩！
见证非凡的超薄切片技术
2016年5月19日至20日，广州w66给利老牌与徕卡纳米技术部联合中山大学测试中心在中山大学测试大楼成功举办了“无机材料样 品超薄切片技术”交流会。为期两天的交流会，吸引了相关行业人士的支持与参与。 本次交流会特别邀请到瑞士Diatome公司Mr. Helmut Gnaegi博士主讲，Mr. Helmut Gnaegi来自瑞士，是超薄切片技术全球 第一人，也是徕卡总部在超薄切片技术方面的技术顾问和忠实合作伙伴。 中山大学分析测试中心材料微区分析平台赵文霞主任致开幕词 中山大学分析测试中心材料微区分析平台...
徕卡电镜制样研讨会成功举办
2016年3月25日，徕卡纳米技术部与华南理工大学分析测试中心联合举办电镜制样技术交流会。会议吸引了有色金属研究院、华南理工大学、中国赛宝实验室、广州质检院、肇庆质检院、广本、广汽等50多名科研专家及企业工程师到场。 交流会上徕卡应用工程师程路先生详细地介绍了徕卡最新的先进制样技术，以及徕卡华南区代理商w66给利老牌仪器的应用工程师林宗秀先生介绍了徕卡最新发布的超景深视频显微镜DVM6。此次技术交流会得到相关人士大力的支持与参与，成功地给予大家沟通与交流的平台，得到一致好评，技术交流会在和谐美满的气氛上划上圆满的句号。
标乐微观制样研讨会圆满举办
2015年12月17-19日，华南理工大学材料平台联合标乐中国公司合作举办微观分析样品制备研讨班，吸引了众多企业单位的研发及技术人员的热情参加。 本次研讨会主讲老师为电子五所失效分析部部长邹雅冰女士主讲，全方位介绍电子样品失效的原因影响以及分析制样方法。另外，标乐应用工程师柳文鹏先生详细地介绍了标乐先进制样技术，包括切割、镶嵌、磨抛、腐蚀等一系列制样过程。 这次研讨会得到了相关行业人士的大力支持与参与，参加者包括十几家企业共30余人。 三天的培训，不仅成功搭建了一个交流，学习和合作的平台，有效地...
中国科学院地球化学研究所·岩相制样研讨会
2015年10月22日，广州w66给利老牌仪器与中国科学院地球化学研究所联合举办岩相显微分析解决方案研讨会。会议吸引了众多地质企业及科研单位的技术及科研人员参加，包括广东省地质实验测试中心、广州有色金属研究院、广东省核工业地质局、农科院、广东省地质局等。 会议围绕岩相显微分析，介绍用于岩石和矿物样品制备的完整解决方案，包括薄切片、大块镶嵌样品以及粉末颗粒。技术专家现场讲解岩相样品的制备过程，并针对与会者自带的样品制定完整的制备方案。 与会者高度评价本次会议，表示技术专家解决了他们样品制样问题，对单位的生产...
w66给利老牌仪器出展2015年国际汽车展
2015年11月20日-23日， 广州w66给利老牌携手美国Buehler、美国Instron、德国Leica等代理厂商参加2015年中国（广州）国际汽车展，展出了Buehler切镶磨设备、Wilson硬度计、Instron材料试验机、Leica显微镜等多台设备，阵容强大，吸引了众多企业到场参观指导。
2015深圳·可靠性工程与电装工艺可靠性整体解决方案研讨会圆满落幕
中国赛宝实验室与广州w66给利老牌于2015年7月23日在深圳恒丰海悦国际酒店联合举办了“可靠性工程与电装工艺可靠性整体解决方案研讨会”。中国赛宝实验室分析中心罗道军主任、张晓明总监、彭泽亚高工以及标乐柳文鹏高工，分别就电装工艺可靠性整体解决方案、产品可靠性工程、元器件可靠性工程与物料管控技术、先进电子样品制备技术等四大主题为参会企业代表进行了全面深入的讲解。会场反应热烈，气氛融洽，参会人员就工作中出现的问题和困难提问，四位专家针对每一个提问都给予了耐心细致的解答，热烈的探讨和交流将会议的气氛推向了高潮。...
2015深圳可靠性工程与电装工艺可靠性整体解决方案研讨会报名中
会议时间：2015 年 07 月 23 日 会议地点：深圳恒丰海悦国际酒店 主办单位：工业和信息化部电子第五研究所可靠性研究分析中心 广州w66给利老牌仪器科技有限公司( Buehler华南区总代理) 会议规模：200人 参会形式：免费 会议背景： 随着电子产品复杂程度的提高以及产品研制周期的缩短，如何从管理、设计、材料、工艺和使用各环节保证电子产品（装备）的可靠性是必须要认真考虑的问题。 另外，由于业界一直存在重设计轻工艺的根深蒂固的观念，导致组装生产出来的产品质量问题不断，导致了成本的显著增加和企业品...
