新品上架 | S neox白光共聚焦干涉显微镜

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金秋九月，秋意渐浓。w66给利老牌仪器喜迎新的合作伙伴Sensofar。Sensofar-Tech,S.L成立于2001，是一家领先的技术公司，秉持高质量标准，深耕表面测量技术领域。为研发和工业制造提供完善的解决方案。

产品上新

S neox白光共聚焦干涉显微镜是Sensofar专为速度而设计，品质管控和研发的解决方案。新型S neox 在性能、功能、效率和设计方面优于现有的3D光学轮廓仪，是Sensofar的新一代高端测量系统。

精准易用
01易于使用
Sensofar 致力于为客户提供令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统的诞生，w66给利老牌的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。
02前所未有的速度
通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机，达到前所未有的速度。数据采集速度达180fps。标准测量采集速度比以前快5倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。

功能灵活多样
丰富的自动化模块，方便进行质量管控。从操作员访问权限控制、测量程序存储、兼容性到条形码/QR 读取器，以及w66给利老牌专有 SensoPRO 软件中的定制插件，都可以自动生成分析报告。w66给利老牌的优化解决方案能够在 QC 环境中工作，其具有灵活性和易于使用的界面，可编程并24小时工作。

四合一技术

01 干涉
PSI 相移干涉法可以用于测量亚埃分辨率的高度光滑和连续表面的高度。可以使用极低的放大率 (2.5X) 测量具有相同高度分辨率的大视场。
CSI 相干扫描干涉法使用白光扫描光滑到中等粗糙表面的表面高度，达到1 nm的高度分辨率。

02 共聚焦
共聚焦轮廓提供最高的横向分辨率，最高可达0.15 μm水平分辨率，空间采样可减少到0.01 μm，这是关键尺寸测量的理想选择。高达NA (0.95)和放大倍率(150X) 的物镜可用于测量局部斜率超过 70°的光滑表面。对于粗糙表面，最高可允许 86°。

03Ai 多焦面叠加
主动照明多焦面叠加是一种为了测量大粗糙表面形状而开发的光学技术。通过使用主动照明，即使在光学平滑的表面上也能获得更可靠的测量数据。该技术的亮点包括高斜率表(高达 86º),最快的速度(3 mm/s)和较大的垂直范围测量。

04前所未有的速度
薄膜测量技术快速、准确、无损地测量光学透明层的厚度，且不需要样品制备。可以在不到一秒钟的时间内测量出50 nm到1.5 μm的透明膜。测量光斑取决于物镜放大率，最小可低至0.5 μm，最高可达40 μm。

S neox 应用范围广泛，功能强大，能提供最全面、最完整的解决方案。如果想要探索新产品的应用，那就赶快测样交流一下吧！

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