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2024-06-17

邀请函 | 第六届深圳国际半导体技术暨应用展览会

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2024第六届深圳国际半导体技术暨应用展览会(展会简称:SEMI-e)是由中国通信工业协会、深圳市半导体行业协会、深圳市中新材会展有限公司、江苏省半导体行业协会、浙江省半导体行业协会、成都市集成电路行业协会等单位联合主办。第六届SEMI-e以【“芯”中有“算” · 智享未来】为主题,60,000平方米展出面积,800余家展商,预计观众人数达60,000+。本届展会展示以芯片设计及制造、半导体制造、封测、材料和设备、零部件及检测外,突出AI算力、算法、存储、工业控制、汽车智能化、物联网、Ai医疗、教育、智慧能源控制等各种最新应用解决方案。


展会时间

2024年6月26日-28日

展会地点

深圳国际会展中心 4/6/8 号馆

徕卡展位

6号馆 6F42号展位


徕卡应用案例展示

面 板


边缘焊点观察截面定位切割


  

  

芯 片

贴片电感器表面切割

  

  



徕卡电子半导体显微制备和观察方案


精准定位,大范围,无损伤

Leica EM TXP 精研一体机

定位切割抛光微小区域


对毫米和微米尺度的微小目标区域进行精确定位、切割、研磨和抛光

可获得平如镜面的抛光效果

切割和立体显微观察体系合为一体,实现原位观察

自动化样品处理过程


Leica EM TIC 3X 三离子束研磨仪

“无应力”“大面积”切割截面


高质量无应力“切割”截面


适用于多层膜材料、软硬复合材料等高难度样品制备

操作简单,有效避免涂抹效应


Leica Uc Enuity 超薄切片机

纳米级薄片制备


可制备纳米-微米级厚度切片

常温和冷冻轻松切换,满足从-180°C-室温超薄切片和半薄切片需求

适用于多种生物、硬质金属、软质材料等样品自动化操作,轻松掌握超薄切片技术




徕卡电子半导体检测解决方案

当您需要对晶圆及IC封装进行检验;对PCB印刷线路板制程中进行2D和3D测量及观察或者对于PCB板做一个全览观察;亦或者对于液晶显示器LCD、平板显示器FPD等进行检测观察都能放心的交给徕卡。

Leica 8000M-12000M专注于电子半导体行业

看的更多检测更快,生产效率更高

高宏观视野;

UV和OUV快速切换;

内置斜照明,全内置LED照明;

高级多功能平场APO物镜;符合人体工学


Leica DVM6 超景深数码视频显微镜

无需苦苦寻觅,结果尽在眼前


超大视野及变倍比;

高清分辨率和色彩还原性;

多种照明模式可自由组合;

强大的景深合成功能,一键拍照,2D 3D测量


DM4M/DM6M 智能材料分析显微镜

因为可靠,可以再现


高级别复消色差光路设计

内置LED透反射照明,智能光强变化控制照明方式

配备多个专门的功能按钮,可进行多种偏好设置,一键调用

全自动明场、暗场、偏光、微分干涉观察方式

6孔位电动物镜转盘,带编码识别

可升级成LIBS 2合1系统,对材料进行成分分析


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