中国赛宝实验室与广州w66给利老牌合办电子组装工艺及元器件可靠性技术研讨会

来源: 作者: 浏览:1393

2014年6月6日，由中国赛宝实验室与标乐（BUEHLER）中国及其华南区总代理广州w66给利老牌贸易有限公司联合举办的“电子组装工艺及元器件可靠性技术专题研讨会”在广州顺利召开。伟创力、美的、生益电子、德昌电机、捷普等企业的高管及技术人员共100余人参加研讨会。

中国赛宝实验室可靠性研究分析中心工程部部长蔡伟、工艺部部长邹雅冰分别围绕电子组装工艺及元器件可靠性技术作了专题报告，同时，标乐技术专家徐茂华也作了相关电子材料试样制备方法的经验分享。参会人员就PCB/PCBA失效分析方法以及经典案例、元器件失效分析方法及经典案例等方面进行技术交流以及经验分享。

本次研讨会是保证电子组装及元器件可靠运行所进行的一次重要的技术交流，会议成果对参会企业的生产、研发、质量控制等各环节的优化有着积极意义。