-
AXIS SUPRA X射线光电子能谱仪
Axis Supra 的设计理念是将样品自动载入、光学显微镜辅助定位样品分析位置和智能的数据采集、处理等易用性集成于高端XPS,并未由于高度自动化而丧失高性能。超高的灵敏度、杰出的能量分辨和快速、高空间分辨的成像满足绝大多数高要求的应用
您目前所在的位置:首页 > 产品 > 岛津Shimadzu 分析检测设备 > 岛津Shimazu 表面分析 > 表面分析
技术特点
· 大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度。
· 大平均半径的双聚焦半球能量分析器,可以获得最高的谱线能量分辨。
· 二维阵列延迟线检测器,可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置,亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。
· 同源中和器,具备无阴影荷电中和能力,且对于表面凸凹不平的样品,可实现精准电荷中和。
· 标配单色化Al阳极,亦可选购单色化的Al/Ag双阳极,并且单色化阳极靶可以更换多个新鲜靶点,极大地延长了阳极靶的使用寿命。
· 标配进样室定位光学显微镜,可以在进样预抽真空时定位多样品的分析位置,然后转入分析室实施自动分析。