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X射线衍射仪 XRD-6100
配备高精度垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
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产品特点易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪的新时代！
Ｘ射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。
配备高精度垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
XRD-6100具有本质安全结构。
只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高安全性。
配备高速运转（1000°/min）及高精度角度重现性（±0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。
驱动机构为独立2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴独立驱动，特别对薄膜测定行之有效。
备有丰富的附件（软件/硬件）来满足多种需要。
对应工业环境测定标准/工业环境评价标准修订
X射线衍射仪XRD-6100 环境测定包
适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。
适于工业环境中的游离硅以及石棉的定性 · 定量分析。
游离硅的定性·定量分析
工业环境测定中矿物性粉尘的管理浓度为按以下公式计算出的量。（从2005年4月1日开始实行）
E=3.0/（0.59Q+1） （参考）修订前E=2.9/（0.22Q+1）E：管理浓度mg/m3 Q：游离硅含有率（%）
所以知道粉尘中游离硅酸的含有率是很重要的。
游离硅种类有石英、微晶物、鳞石英等。 在此回修订中，首先规定使用X射线衍射装置掌握含有什么种类的游离硅（定性分析），根据其定性结果，以使用磷酸法或X射线衍射装置的基底标准吸收校正法进行定量。
下图表示这些游离硅的衍射模式，分别具有各自的特征峰，因此，易于识别其种类。
物质的衍射X射线强度因受基底物质吸收的影响，必须进行校正。为进行校正必须求得基底物质的X射线吸收系数。可在一次的测定中将其完成的方法就是「基底标准吸收校正法」。本测定包包括采用了此基底吸收校正法的专用定量分析软件。
各種游离硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
关于石棉，在2005年7月实施了【石棉伤害预防规则】。适用此规则的建材等样品，如果其石棉含量超过重量5％左右以上，则可使用X射线衍射装置以标准添加法或内标添加法对采集来的样品进行定量，但对于少于上述含量的样品有时不能进行定量。
此时，作为只溶解样品基底成分的前处理方法，实施甲酸前处理法，然后使用X射线衍射装置以基底标准吸收校正法进行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中，也可使用配备有基底标准吸收校正法的环境测定样品台的X射线衍射装置XRD－6100环境测定包。
各种石棉的衍射模式
石棉主要有蛇纹石类的纤蛇纹石，角闪石类的铁直闪石、虎睛石等。使用X射线衍射法利用它们的特峰进征行定量分析。
