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XRF-1800型 扫描型X射线荧光光谱仪
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界首创的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的完美程度
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技术特点
•性能优异的光源,业界最低的外部条件要求,电压允许波动±10%,接地电阻≤30Ω
•世界首创波长色散荧光250µm微区分布分析,实现了异性样品和微量样品的分析
•独有的高级次谱线解析功能,可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件,快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法(BJ-FP)
•2015新型“定量-FP”法,实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析
•性能优异的光源,业界最低的外部条件要求,电压允许波动±10%,接地电阻≤30Ω
•世界首创波长色散荧光250µm微区分布分析,实现了异性样品和微量样品的分析
•独有的高级次谱线解析功能,可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件,快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法(BJ-FP)
•2015新型“定量-FP”法,实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析